高度加速ストレステスト

高度加速ストレステスト（HAST）法は、IBMのJeffrey E. Gunn、Sushil K. Malik、Purabi M. Mazumdarによって初めて提案されました。^[1]

湿度上昇の加速係数は経験的に次のように導かれる。

${\displaystyle AF_{\text{H}}=e^{{\text{const}}\cdot (RH_{\text{s}}^{n}-RH_{\text{o}}^{n})},}$

${\displaystyle {\text{const}}}$通常0.1から0.15までの値である

ここで、RH _sはストレス湿度、RH _oは動作環境湿度、nは経験的に導かれた定数 (通常 1 <  n  < 5) です。

温度上昇の加速係数は次のように導かれる。

${\displaystyle AF_{T}=e^{(E_{\text{a}}/k)(1/T_{\text{o}}-1/T_{\text{s}})},}$

ここで、E _aは温度誘起故障の活性化エネルギー（電子機器では通常 0.7 eV）、kはボルツマン定数、T _oはケルビン単位での動作温度、T _{s は}応力が加わる温度です。

したがって、バイアスのないHAST試験の総加速係数は

${\displaystyle AF_{\text{HAST}}=AF_{\text{H}}\cdot AF_{T}=e^{{\text{const}}\cdot (RH_{\text{s}}^{n}-RH_{\text{o}}^{n})}e^{(E_{\text{a}}/k)(1/T_{\text{o}}-1/T_{\text{s}})}.}$

参考文献

1. Gunn, Jeffrey E.; Malik, Sushil K.; Mazumdar, Purabi M. (1981年4月7日～9日).高度加速温度湿度ストレス試験法 (HAST) . 第19回国際信頼性物理シンポジウム. ラスベガス: IEEE. pp.  48– 51. doi :10.1109/IRPS.1981.362972.

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